显微紫外可见近红外分光光度计
MSV-5000系列是测量紫外区域到近红外区域广范围波长领域内的微小样品以及微小部位的透过・反射测量的显微分光系统。广泛应用于电子元件的透过・反射特性的评价、半导体的能隙测量，计测膜厚、功能性结晶光学特性评价、色彩分析等领域。
自动绝对反射率测量系统
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角
光电探测器光谱响应测量系统
光谱测量系统 光谱测量应用系统 光谱应用系统 光谱响应测量系统 光电探测器光谱响应测量系统的简介 光电探测器光谱响应测量系统的特点 光电探测器光谱响应测量系统的规格 光电探测器光谱响应测量系统的型号
单道扫描ICP光谱仪
电话：13521683201，李新路，由我公司研发，生产的原子发射光谱仪，能进行多种元素分析，且分析速度极快，应用面广，可分析70多种元素，包括周期表中所有的金属元素和部分非金属元素。该型仪器稳定性好、测量范围宽、检出下限低、分辨率高、灵敏度高。
三单色仪
三单色仪-三级联光谱仪，由三台焦距为500mm的“谱王”光谱仪经过特殊调校后组合而成，前两级谱仪作色散相减配置，主要作用是降低杂散光，后一级谱仪作色散相加配置，主要作用是提高分辨率。
振动圆二色光谱仪VCD
FVS-6000是适合用于以手性分子构造解析为目的，测定红外区域振动圆偏光二色性的装置。可以获得糖类等在UV/VIS区域没有吸收化合物的光学活性信息以及分子绝对配置的决定的信息。
钻井岩心成分分析（土壤成分分析）
SisuRock系统通过对钻芯等地质样品进行自动高光谱扫描，能够快速获得高光谱图像数据库，研究人员可以提取使用传统方法无法发现的丰富信息。
椭圆率计
日本分光制的椭圆计配有日本分光专利产的PEM双重锁定方式和光伺服・光参考方式，实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量，所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。
旋光仪wzz-2b
旋光仪-旋光仪WZZ-2B通过对样品旋光度的测定，可以确定物质的浓度、纯度、糖度或含量。广泛应用于制糖、制药、药检、食品、香料、味精以及化工、油等工业生产、科研教学部门作化验分析或过程质量控制。